XVision300系列FIB-SEM双束、三束系统产品型号：XVision300系列产品特点：1.在低加速电压下进行高品质的TEM样品制备2.搭载了高分辨SEM，在TEM样品制备过程中可实现适时检...

SIR5000光掩膜修补装置产品型号：SIR5000产品特点：1.采用新型的离子束光学系统，实现了离子束更细微化的聚焦。与现有的机型相比，实现了对更微小的缺陷部分的观察和修正。2.修正精度达到15n...

SOM3355-IR具有Lasermaking功能的远红外观察显微镜产品副名称：具有Lasermaking功能的远红外观察显微镜产品型号：SOM3355-IR产品特点：1.红外观察/变通观察（表示倍...

SMI3300聚焦离子束装置产品型号：SMI3300产品特点：1.标准装备预备样品室，能够把样品放置在不用大气环境的样品室。2.搭载300mm冲程5轴电动U-high倾斜平台。能够在300mmWaf...

X射线荧光分析仪―可对应WEEE＆RoHS,ELV的机种―高灵敏度能量色散型X射线荧光元素分析仪SEA6000VX概要：一台测量范围涵盖了RoHS/ELV分析及其他专业分析的能量色散型X射线荧光分析...

SIR7000FIB光掩膜修补装置产品型号：SIR7000FIB产品特点：1.修正精度从原来的15nm(3σ)提升到10nm(3σ)，采用新型的离子束光学系统，加之提高了离子束照射位置的稳定性，同时...

―针对WEEE＆RoHS,ELV特别设计―能量色散型X射线荧光元素分析仪SEA1000AⅡ概要：可对应《电子信息产品污染控制管理办法》WEEE＆RoHS及ELV指令玩具中有害重金属的检测无铅焊锡分析...

―针对WEEE＆RoHS,ELV特别设计―能量色散型X射线荧光元素分析仪SEA1000AⅡ概要：可对应《电子信息产品污染控制管理办法》WEEE＆RoHS及ELV指令玩具中有害重金属的检测无铅焊锡分析...

―针对WEEE＆RoHS,ELV特别设计―能量色散型X射线荧光元素分析仪SEA1000A?概要：可对应?《电子信息产品污染控制管理办法》????WEEE＆RoHS及ELV指令???玩具中有害重金属的...

元器件观察/光掩模修复（SIR）SPM型光掩模修复装置、液晶用光掩模修复装置全新上市。

等离子体发射光谱仪（ICP）SPS8000型等离子体发射光谱仪是目前世界上体积最小的单道扫描型发射光谱仪，具有高灵敏度、高精密度及良好的安全性的特点。

聚焦离子束(FIB)/扫描离子显微镜(SEM)实现了分辨率为4nm的高分辨率聚焦离子束。与SEM组合后，用一台设备制作出高品质TEM样品变为可能。

扫描探针显微镜(SPM)汇集了从环境控制仪器到可对应高深宽比样品的各种机型

热分析、粘弹性仪(TA)EXSTAR系列是结合了自动进样器（DSC/TGA/DTA）及各种冷却系统等的多功能系统。

X射线荧光镀层厚度测量仪（SFT）从基本配置到配备双检测器的机型的SFT9000系列。可对应各种镀层厚度测量需求。

X射线荧光元素分析仪(SEA)拥有无需液氮、高精度测量、简单操作等特点，可满足各种测量需求的WEEE&RoHS、ELV对应机型及专业测量土壤中有害物质的机型列表。