太阳模拟器
SS50AAA-PLC太阳模拟器是用来模拟太阳辐照度和频谱的设备。太阳模拟器广泛应用于太阳能电池特性测试,光电材料特性测试,生物化学相关测试,光学催化降解加速研究,皮肤化妆用品检测,环境研究等。在光...
FM200平坦度及表面形态测...
产品介绍:Tropel?FM200?为精密部件的制造商提供了业界的表面形态测量。通过非接触式光学测量技术记录下整个表面的数据。FM200能够快速和准确地对各种表面的平面度、线型和其他表面参数进行测量...
Helios-PL光致发光测...
产品介绍:Helios-PL光致发光测试系统能够对多种太阳能电池少子寿命进行快速二维分析,能够准确的测量和计算出电池的缺陷分布及密度,同时准确反馈结果以很好的改进电池的生产工艺。产品特点:■适用几乎...
半自动硅片厚度TTV测试仪
特征■适用于硅片等各种材料的厚度TTV测量■测量范围:0~2mm■分辨率:0.1μm■微电脑控制、液晶显示■菜单式界面、PVC面板操作■接触式测量■测头自动升降■手动、自动双重测量模式■数据实时显示...
HS-MWR-2S-3无接触...
产品介绍:HS-MWR-2S-3无接触少子寿命扫描仪是一款功能异常强大的无接触少子寿命扫描仪,能够对单晶硅棒、多晶硅块及硅片提供快速、无接触、无损伤、高分辨率的多功能扫描测试,其通过微波光电衰退特性...
无接触单点少子寿命测试仪
产品介绍:HS-MWR-SIM无接触少子寿命测试仪是一款功能强大的无接触少子寿命测试仪,能够对单晶硅棒、多晶硅块及硅片提供快速、无接触、无损伤单点少子寿命测试,其通过微波光电衰退特性原理来测量非平衡...
硅材料碳氧测试仪HS-OCT...
产品特点:1)适合于硅材料的氧、碳含量的测定;2)可实现硅料中氧碳含量自动、快速、准确的测量;3)具备完整的谱图采集、光谱转换、光谱处理、光谱分析及输出功能,使得操作更简单、方便、灵活。4)全密封防...
多角度激光椭偏仪(PH-LE...
多角度激光椭偏仪(PH-LE型)专门针对晶硅太阳能电池绒面上的减反膜测量,能够测量薄膜厚度及其光学常数,使用632.8nm波长氦氖激光器,具有极高的度和准确度。多角度激光椭偏仪-产品特点■可以测量单...
HS-WDI-2000系列研...
北京合能阳光新能源技术有限公司成功地设计开发出高性能HS-WDI-2000型数码正置金相显微镜。选用优质的光学元件,使它具有出色的光学系统设计,可获得高清晰的显微图像,成像效果可与进口显微镜媲美。高...
光谱椭偏仪
光谱椭偏仪(PH-SE型)针对太阳能电池应用,可测量多晶硅/单晶硅绒面表面单层(二层或多层)减反射膜、和玻璃/有机基底上的薄膜太阳能电池。多层膜和非均匀薄膜的分析也非常出色。针对太阳能电池应用的光谱...
全自动光谱椭偏仪
全自动光谱椭偏仪(PH-ASE型)把使用者从烦琐的手动调节样品高度和倾斜度工作中解放出来,样品对准是为了保证椭偏仪测量的可重复性和性。已获得专利的自动样品对准装置能够显著减少操作失误;能够工作于透明...
原生多晶电阻率检测测试仪
产品介绍:HS‐POSRT原生多晶电阻率测试仪是一款高端电阻率测试仪器,具有电阻率大量程及超大量程测量的特点,实现了电阻率从0.0001欧姆.厘米到几万欧姆.厘米(可扩展)的测试范围,具有测量精度高...
硅材料综合检测测试仪
硅料综合测试仪HS-PSRT本仪器是运用四探针测量原理的多功能综合测试装置,它可以测量片状、块状半导体材料的径向和轴向电阻率,适用于半导体及太阳能行业的筛选。硅料综合测试仪-产品特点■同时检测硅半导...
原生多晶硅料及硅芯型号检测测...
产品介绍:HS-PSTT原生多晶及硅芯型号测试仪是一款高端半导体材料型号测试仪器,具有大量程测试范围的特点,尤其适用于西门子法原生硅料生产企业的高阻硅料(含硅芯、检磷棒、检硼棒等)以及各种低阻硅料型...
硅片线痕深度测试仪
产品介绍HS-SRT-301型硅片线痕深度测试仪可用于测试硅片的表面线痕深度,具有便于携带、触摸屏便捷操作、液晶显示、节能等优点,同时内置打印机和充电电池,所有设计均符合JIS,DIN,ISO,AN...
HS-T50无接触厚度TTV...
产品简介HS-T50无接触厚度TTV电阻率综合测试系统是一款广泛应用于太阳能电池片制造过程中对表面厚度TTV电阻率无损测量的专业仪器。该仪器适用于Si,GaAs,InP,Ge等几乎所有的材料,所有的...
无接触一体式电阻率型号测试仪
产品介绍HS-TRM-100型无接触式电阻率型号测试仪是基于涡流(EddyCurrent)测试技术,能够对硅料、硅棒、硅锭及硅片进行无接触、无损伤的体电阻率测试。无接触式电阻率型号测试仪-产品特点■...
硅片厚度测试仪
适用于量程范围内的硅片等各种材料的厚度测量。特征液晶显示接触式测量手动测量模式数据实时显示具有输出接口,可选配适配器实现232接口功能技术指标测量范围:0~12.7mm分辨率:0.001mm外形尺寸...
MWR-2S-3I无接触少子...
产品介绍:MWR-2S-3I是一款功能异常强大的无接触少子寿命及红外探伤综合测试仪,能够对单晶硅棒、多晶硅块及硅片提供快速、无接触、无损伤、高分辨率的多功能扫描测试。一方面,其通过微波光电衰退特性原...
NCS-R90 无接触方块电...
产品简介NCS-R90无接触方块电阻测试系统是一款广泛应用于太阳能电池片制造过程中对表面方块电阻进行无损测量的专业仪器。该仪器适用于Si,GaAs,InP,Ge等几乎所有的材料,所有的设计都符合AS...