产品介绍
HS-SRT-301型硅片线痕深度测试仪可用于测试硅片的表面线痕深度,具有便于携带、触摸屏便捷操作、液晶显示、节能等优点,同时内置打印机和充电电池,所有设计均符合JIS,DIN,ISO,ANSI等标准。
硅片表面线痕深度测试仪-产品特点
■便于操作的触摸屏
■内置打印机和充电电池
■ JIS/DIN/ISO/ANSI兼容36个评价参数和3个分析图表
■探针行程达350mm
■ 具有统计处理功能
■ 带有SURFPAK-SJ软件的PC连接端口
■ 自动休眠功能可有效节约能源。
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高分辨率液晶屏显示粗糙度值
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性价比高
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菜单式快速方便设置
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高分辨率液晶LCD显示
硅片表面线痕深度测试仪-技术指标
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检测器测试范围:350μm (-200μm to +150μm)
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检测器检测方式:微分感应
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检测器测力:4mN
或 0.75mN(低测力方式)
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显示:
液晶显示
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数据输出:
通过RS-232C端口/SPC数据输出
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电源:
通过AC适配器/电池(可更换)
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充电时间:15小时
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电池使用时间:最多可测600次
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检测器尺寸(WxDxh):307×165×94mm
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检测器重量:1.2kg
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驱动部尺寸(WxDxh):115 x 23 x 26mm
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驱动部重量:0.2kg
典型客户
美国,欧洲,亚洲及国内太阳能及半导体客户。
详情欢迎来电咨询:
北京合能阳光新能源技术有限公司
北京市通州区工业开发区光华路16号
电话: -104
传真:01060546837-608
联系人:肖经理 QQ:454972757
E-mail:xiaozongyong@henergysolar.com
公司网站:http://www.HenergySolar.com