全自动光谱椭偏仪(PH-ASE型)把使用者从烦琐的手动调节样品高度和倾斜度工作中解放出来,样品对准是为了保证椭偏仪测量的可重复性和性。已获得专利的自动样品对准装置能够显著减少操作失误;能够工作于透明或反射基底;能够进行地貌图测量,包括翘曲晶片。
全自动光谱椭偏仪 -
产品特点
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全自动样品校准
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高测量速率 < 8秒
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消除了全波段范围内的盲点
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可测量透明和吸收基底
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高测量精度
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具有实验数据和模拟数据三维绘图功能
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友好的软件界面,强大数据分析功能
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具有实验数据和模拟数据三维绘图功能
光谱椭偏仪 -
技术指标
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光源:氙灯
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光斑直径:1-3mm
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入射角范围:20°到90°自动控制
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波长范围:350-850nm,
250-1100nm, 250-1700nm:0.002°~
0.02°
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波长精度:1nm
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测量时间: < 8s
(取决于测量模式和粗糙度)
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入射角度精度:0.01
光谱椭偏仪 -
可选配
■ CCD线阵列探测元件:200-850nm,350-1000nm
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样品显微镜
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高稳定性消色差补偿器
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透射测量架
■ XY移动样品台
光谱椭偏仪 -
典型客户
美国,欧洲,亚洲及国内太阳能及半导体客户。
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