SIUICTS-23APlus模拟超声探伤仪·工作频率达20MHz，分三个频段，可配用高频窄脉冲探头获得高分辨力·衰减器为衰减型，总衰减量90dB，特设0.5dB×20...

SIUICTS-22A模拟超声探伤仪·工作频率达10MHz，可配用窄脉冲探头获得高分辨力·采用衰减型高精度衰减器，总衰减量80dB·可交直流电工作，小型轻便，安全可靠项...

直探头进行垂直探伤用的单晶片探头，主要用于纵波探伤。直探头由插座、外壳、保护膜、压电晶片、吸声材料等组成。小晶片的探头（直径<=12mm），探头线接口为Q6插座，其他晶片探头，探头线接...

斜探头进行斜射探伤用的探头，主要用于横波探伤。斜探头由斜块、压电晶片、吸声材料、外壳、插座等组成。进行斜射探伤用的探头，主要用于横波探伤。斜探头由斜块、压电晶片、吸声材料、外壳、插座等组成。...

相控阵探头相控阵探头的每个压电晶片都可以独立接受信号控制，与相控阵设备连接在一起时，可以以不同角度产生超声波束，可实现动态聚焦和实时扫描。相控阵探头的每个压电晶片都可以独立接受信号控制，与相控阵设备...

水浸式探头水浸式探头，通常用于半自动或者自动化探伤系统中。工件和探头浸入水中，探头与工件的检测面之间保持一定距离的“水延迟”。探头并不直接接触工件，因此不规则的、几何形状复杂的或者表面粗糙的工件探伤...

双晶探头装有两个晶片的探头，一个作为发射器，另一个作为接收器。又称分割式探头、或者联合双探头。双晶探头主要由插座、外壳、隔声层、发射晶片、接收晶片、延迟块等组成。?插座为电气接口，通过探头线连接到仪...

轮箍探头轮箍不动车超声波探伤用探头，适合《轮箍不动车超声波探伤技术条件》的要求，用于在不动车的条件下对轮箍的踏面下缺陷进行检测；双晶聚焦探头，在轮箍踏面上对探头下方的缺陷进行检测，一发一收,焦距30...

轮箍探头轮箍不动车超声波探伤用探头，适合《轮箍不动车超声波探伤技术条件》的要求，用于在不动车的条件下对轮箍的踏面下缺陷进行检测；双晶聚焦探头，在轮箍踏面上对探头下方的缺陷进行检测，一发一收,焦距30...

可拆式斜探头斜探头的一种特殊类型，将斜探头分成斜块、探头芯两个部分，使用时将两者组合起来。进行斜射探伤用的探头，主要用于横波探伤。斜探头由斜块、压电晶片、吸声材料、外壳、插座等组成。频率(MHz)晶...

可变角探头可变角度探头，允许用户调节晶片的入射角度。可调节范围从0度到90度，随着晶片入射角度的改变，在被检测的工件中产生相应折射角的纵波、横波或者表面波。可变角度探头，允许用户调节晶片的入射角度。...

非金属探伤用探头用于检测非金属材料，如混凝土、木材、岩石等。成对使用，一发一收，工作方式为透射式。铝合金外壳，频率从12.5KHz到250KHz，连接到探头线的插座为Q9。用于检测非金属材料，如混凝...

充水式探头充水式探头充水式探头，由水套、探头芯、水嘴等组成。工作方式为部分水浸式，只是将探头的声束发射/接收面浸入水中，通过水嘴将连续流动的水充入水套中，在探头芯与工件接触面形成薄的一层水膜作为耦合...

测厚探头双晶纵波探头，配套超声波测厚仪，用于材料厚度值的测量。铝合金外壳、不锈钢内套、有机玻璃延迟块，连接到探头线的两个接口为C5插座。双晶纵波探头，配套超声波测厚仪，用于材料厚度值的测量。铝合金外...

表面波探头发射和接收表面波的探头。表面波是沿工件表面传播的波，幅值随表面下的深度迅速减少，传播速度是横波的0.9倍，质点的振动轨迹为椭圆。表面波探头在被检工件的表面和近表面产生表面波。发射和接收表面...

TOFD探头汕头“超声电子”推出高分辨率纵波探头,产品性能指标达到国际先进水平（包括振荡周期在一个半周期以内），特别适合TOFD检测应用，满足GB/T23902-2009、JB/T4730附录、BS...

SCQtofd-3双通道TOFD扫查器TOFD扫查器SCQtofd-3是一款双通道TOFD检测专用扫查器，同时也可作为单通道TOFD扫查器使用。TOFD扫查器SCQtofd-3是一款双通道TOFD检...

SCQtofd-2TOFD扫查器SCQtofd-2TOFD扫查器SCQtofd-2是一款设计轻巧、便携、集多种扫查功能于一体的通用扫查器，其体积小、重量轻，可完成对焊缝低成本的TOFD检测。TOFD...

SCQtofd-1TOFD扫查器SCQtofd-1TOFD扫查器SCQtofd-1是一款设计轻巧、便携、集多种扫查功能于一体的扫查器。TOFD扫查器SCQtofd-1是一款设计轻巧、便携、集多种扫查...

SCQcscan-1手动C成像扫查器SCQcscan-1手动C成像扫查器SCQcscan－1扫查器可以实现带有位置信息反馈的XY两轴自由滑移运动，可以配套带有两编码器接口的超声仪器使用，配合不同探头...