MSD6270测试架 ，适用于测试芯片功能好坏的验证和判别。

MSD6270测试架特点：

1. 金属座头采用手动翻盖结构，操作灵敏。（不是塑胶座头）
2. 座头顶盖的芯片压块采用人性化结构，下压力度平稳，保证IC的压力均匀，不偏移。
3. 探针的爪头凸起能有效刺破锡球的氧化层，接触性能稳定, 保护锡球外形。
4. 理性化的定位槽、导向孔可以确定IC定位。
5. 特殊IC载板结构，保护探针不受外力损坏。
6. 探针：进口探针，铍铜镀硬金、铑。寿命5-8万次以上，圆融达。
7.维修成本低：方便更换探针，成本低效率高。
8.高强度耐高温绝缘材料：330度。
9.大量备货，供应充足。
10.度信连接方式，测试速度快，1人/天测试3000PCS