光切显微镜轮廓平面度测量

为测量表面轮廓平面度，需使狭缝平行的分划水平线与狭缝清晰边缘（下面边）点相切，见图3。然后记上在目镜分划板与测微鼓上的读数，再使十字线的水平线与狭缝隙清晰边缘点相切，第二次记下分划板与鼓轮的读数，两次读数之差为：上海光切显微镜专卖

a = —— (2) ，将式（2）中的N代入式（1）后得

h = ——（3），式中：a—分划板的两次读数差。上海光切显微镜专卖

为求出平面度平均高度值RZ，要求取被测轮廓的五个点（峰）和五个点（谷）之间的平均读数a平均，再按式（3）计算出h，即平面度平均高度值RZ，再可按表2查出表面粗糙度等级。上海光切显微镜专卖

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