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一、用途
  LW300MT硅芯片检查显微镜专为微电子行业量身定做,适用于硅、砷化镓、磷化铟等基片6″8″盘的生产工艺检查;可以方便的快移和的位移检查;也可以适用其它需较大面积标本的工艺检查
 
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