SEMISHARE的SX-12 半自动探针台设备主要是专为wafer以及各类器件提供各项光丶电等特性的测试（包含特定环境）而设计的半自动测试设备。设备以SEMISHARE的机器视觉系统为核心，能为晶圆的测试提供高精度且成本低廉的解决方案。
设备主要特点：
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支持Sic/Gan晶圆测试，大功率晶圆测试；
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更换Chuck设计，可针对不同晶圆测试；
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可与仪器仪表系统进行集成；
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可升级高低温测试环境测试；
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可半自动测试以及可扩展全自动测试。
用途
SEMISHARE SX型号半自动探针台具有优异的机械系统，结构稳定，符合人机工程学，并具有很多升级功能。该设备可以广泛用于集成电路、LED、LCD、太阳能电池等行业的制造和研究领域。