同时利用透射电镜、扫描电镜以及偏光显微镜辅以溶胀平衡实验对MMT在CIIR基体材料内的分散以及作用机理进行观察和分析，探讨了OMMT作为阻尼剂的阻尼机理，研究了不同的分散情况对CIIR/OMMT复合材料力学性能、阻尼性能的影响，在进行预清洗过程时，蚀刻速率变化不大，说明表面没有氧化硅掩蔽层或有机残留物层，透射电镜调查也证实了这一发现，通过透射电镜高分辨元素成像，可以看出纳米颗粒的元素组成确实包括Cd元素和S元素。

透射电子显微镜（TEM）是研究材料微结构zui直接的表征技术之一，能够在纳米到原子尺度对材料微结构进行成像与分析，目前，应用于材料的电学参数表征方法可以分为两大类：一类为宏观尺度技术，比如四点探针法或范德堡法，光学测量等，允许快速检测，但只能提供直流电导率等单一参数信息，另一类为纳米尺度的技术，如拉曼光谱、原子力显微镜、扫描电镜、透射电镜等，能够得到分辨率很高的图像，然而通常需要复杂的样品制备步骤，并且测量速度十分缓慢，无法实现高速测量。

染色方法有单染，包括铅盐单染和铀盐单染；双染色，醋酸铀染色和柠檬酸铅染色，双染色呈现结果更全面，我们一般采用的双染法进行染色，常用染色剂：醋酸铀，有微弱的放射性，主要染核酸、核蛋白、细胞核、结缔组织，柠檬酸铅，主要染膜结构、脂类、糖原等，易与CO2反应成沉淀，染色中应采取措施避免，电镜照片主要解析粒径分布、单晶/多晶、晶面结构、元素和原子分散，其本质是信号的空间分布，基本机理与比例尺地图是一致的。