通过对材料进行X射线衍射，得到其衍射图谱，可获得材料的成分、内部原子或分子的结构或形态等信息，可用于物相鉴定，粒径表征，点阵参数、结晶度、残余应力、晶体取向及织构的测定，具有不损伤样品、无污染、快捷、高精度、可获取信息量大等优点。
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