光学厚度测量仪是一款独特的USB便携式测量仪器，可对透明和半透明的单层或多层堆叠薄膜进行准确的无损(非接触式)表征。

光学厚度测量仪的应用领域：

1、大学&科研院所

2、半导体(氧化物、氮化物、硅、电阻等)

3、MEMS元器件(光刻胶、硅薄膜等)

4、LED

5、数据存储元件

6、弯曲基材(衬底)上的硬/软涂层

7、聚合物涂层、粘合剂等

使用FR-prtable，用户可以在380-1020nm光谱范围内进行反射率和透射率测量。

Thetametrisis膜厚仪FR-prtable的紧凑尺寸以及定制设计的反射探头以及宽带长寿命光源确保了高精度和可重复的便携式测量。

FR-Prtable既可以安装在提供的载物台上，也可以轻松转换为手持式厚度测量工具。放置在待表征的样品上方即可进行测量。

FR-Prtable是用于工业环境（如R2R、带式输送机等）中涂层实时表征的可靠而准确的测厚仪。

FR-prtable是适用于现场应用的一款光学表征工具。

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