集成电路高温动态老化系统
★符合标准：MIL-STD-883D、MIL-M-38510、GJB548、GJB597等试验标准。
★适用范围：适用于各种封装形式的大、中、小规模数字、模拟、数模混合集成电路，包括微处理器、逻辑电路、可编程器件、存储器、A/D、D/A等器件的工作寿命试验和高温动态老炼筛选。
技术特点：
●一板一区，可满足16种不同试验参数的器件同时老化。
●强大的图形发生系统，64路数字和2路模拟可编程信号。
●完善的、种类齐全的老化器件数据库可供用户调用。
★技术性能
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产品型号
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ES-BIC64-16
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ES-BIC64-8
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产品名称
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集成电路高温动态老化系统
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高温试验箱
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ESPEC产PH-201大容量高温试验箱1台套，内箱尺寸：60cm×60cm×60cm，水平风道设计。
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ESPEC产LC-213高温箱一台，内箱尺寸：45cm×45cm×45cm，垂直风道设计。
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试验区域
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16个（一板一区）
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8个（一板一区）
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试验容量
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200×16=320位（以DIP14为例）
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136×8=1088位（以DIP14为例）
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一级电源
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8∽16台25V/40A或40V/25A等规格可选
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4∽8台25V/40A或40V/25A等规格可选
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二级电源
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◆每个通道提供独立程控的VCC、VMUX、VCLK、VEE四路二级电源。
◆每路二级电源具有过压、欠压、过流、短路和过热等保护功能。
◆输出能力：±1.00V～±18.00V/10A。
◆电源监测：实时监测记录二级电源的电压，并可生成图形曲线，便于试验监控。
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数字信号
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◆每个通道：64路数字信号。
◆编程能力：编程深度256Kbit；***小编程步长：100ns；编程分辨率：100ns；信号频率：5MHz。
◆寻址能力：可寻址64Gbit(老化ROM/SRAM等)
A00～A35,可寻址行列地址刷新器件64Gbit（老化DRAM/SDRAM等）AXX～A17，AYY：A00～A17。
◆信号特性：每路均具有数据、地址、控制、三态属性编辑功能。
◆驱动能力：IOL≥300mA、IOH≥100mA、Tr≤50ns、Tf≤50ns。
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模拟信号
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◆模拟信号数：2路
◆波形类型：正弦波、三角波、前沿锯齿波、后沿锯齿波、矩形波。
◆模拟信号指标：信号可编程频率：1Hz～32KHz；程控幅度范围Vpp：0～±10V；
直流偏移量范围Vdc：0～1/2
Vpp；编程步长: 0.01V；驱动能力：≥1.0A；
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上位机
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工业级电脑主机、液晶显示器、专用键盘及鼠标。WINDOWS操作界面，友好的人机对话窗口，强大的图形编辑能力以及强大的器件库供用户选择，软件操作简单易学。更有系统查询诊断功能，试验状况一目了然，方便用户随时查验。
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电网要求
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单相AC220V，6KW
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单相AC220V，3KW
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外形尺寸
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WхHхD：140х188х132（cm）
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WхHхD：105х188х112（cm）
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重量
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约500kg
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约300kg
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