高温反偏老化试验箱|HTRB高温反偏老化系统-易升科技
高温反偏老化试验箱|HTRB高温反偏老化系统适用于各种封装的二极管、三极管、MOSFET、整流桥堆和可控硅等分立器件进行高温高湿反偏试验(H3TRB)；选用进口品牌高温潮湿环境试验箱，试验过程中无结露滴水现象，确保试验顺利进行；我们公司特制的连接器保证了试验的可靠性和系统超长的使用寿命，不仅有效降低使用成本还大大提高了系统的使用效率；配置灵活方便，可以根据实际的使用要求决定是否选装电脑检测系统；系统配套的老化板种类非常齐全,每块老化板都经过特殊的防潮湿处理，使用寿命达到国际水平；
高温反偏老化试验箱|HTRB高温反偏老化系统适用范围：
适用于各种封装形式的二极管、三极管、场效应管、可控硅、IGBT等器件进行高温反偏试验(HTRB)和高温漏流测试试验（HTIR）。
高温反偏老化试验箱|HTRB高温反偏老化系统主要技术指标和性能：
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型 号
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高温反偏老化试验箱|HTRB高温反偏老化系统型号ES-SP216；
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符 合 标 准
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MIL、GJB、JEDEC、GB；
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试 验 条 件
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85%RH，85℃（典型）；
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适 用 范 围
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适用于各种半导体器件进行高温高湿反偏试验（H3TRB）；
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试 验 容 量
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16
区×80位/区=1280位；
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老化电源配置
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标准配置4
路，最多可配置16
路；
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老化电源规格
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50V/5A 100V/3A 200V/2A 300V/1A 300V/2A
可根据需要任意选择；
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电源切换装置 （选装件）
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电源和老化板之间可以自由切换；
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驱 动 检测板
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数量：16块（可以根据实际使用要求减少配置）；
功能：监测和记录每个被试器件的漏电流参数；
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器件保护方式
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保护电阻/快速熔断保险丝；
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试验状态监测
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每区提供80
个测试接口，电脑实时监测各器件的漏电流；
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老 化 测试板
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采用耐175℃高温的H3TRB
专用高绝缘底板，表面经过专门的防潮湿处理，85%RH， 85℃条件下使用寿命可达两年以上（每次试验结束后要及时清洗，祛除表面污垢）；
H3TRB 可以兼容HTRB
试验；
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老 化 测试座
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采用耐175℃，100%湿度的高温老化测试座；
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老 化 板支架
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304
不锈钢材料；
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系统外形尺寸
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W120cm×D130
cm×H190cm；
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系统供电要求
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输入380V
50HZ, 三相； 功率：10kw；
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系 统 总重量
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约600Kg。
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