系统特征:
● IV曲线显示/局部放大
● 程序保护电流/电压,以防损坏
● 品种繁多的曲线
● 可编程的数据点对应
● 增加线性或对数
● 可编程延迟时间可减少器件发热
● 保存和重新导入入口程序
● 保存和导入之前捕获图象
● 曲线数据直接导入到EXCEL
● 曲线程序和数据自动存入EXCEL
● 测试范围广(19大类、27分类)
曲线测试:
ID vs. VDS at range of VGS
ID vs. VGS at fixed VDS
IS vs. VSD
RDS vs. VGS at fixed ID
RDS vs. ID at several VGS
IDSS vs. VDS / HFE vs. IC
BVCE(O,S,R,V) vs. IC
BVEBO vs. IE
BVCBO vs. IC
VCE(SAT) vs. IC
VBE(SAT) vs. IC
VBE(ON) vs. IC (use VBE test)
VCE(SAT) vs. IB at a range of ICVF vs. IF
测试参数:
漏电参数:IR、 ICBO、 LCEO/S/X、IDSS/X、 IDOFF、 IDRM、 IRRM、
ICOFF、IDGO、ICES、IGESF、IGESR、IEBO、IGSSF、IGSSR、
IGSS、IGKO、 IR(OPTO)
击穿参数:BVCEO BVCES(300μS Pulse above 10mA)BVDSS、 VD、
BVCBO、 VDRM、 VRRM、 VBB、BVR 、 VD+、VD-、BVDGO、
BVZ、BVEBO、BVGSS、 BVGKO
增益参数:hFE、CTR、gFS
导通参数:VCESAT、VBESAT、VBEON、 VF、VT、VT+、VT-、 VON、
VDSON、VDON、VGSON、VF(Opto-Diode)VGSTH、VTM、
VGETH、VSD、IDON、VSAT、IDON、VO(Regulator)
Notch = IGT1、IGT4、ICON、VGEON、、IIN(Regulator)
关断参数:VGSOFF
触发参数:IGT、VGT
保持参数:IH、IH+、IH-
锁定参数:IL、IL+、IL-
混合参数:rDSON、gFS、Input Regulation、Output Regulation
间接参数:IL
配置规格:
配置
|
规格/环境 |
主极电压
|
1mV-2000V |
尺 寸 |
450×570×280(mm) |
电压分辨率
|
1mV |
质 量 |
35kg |
主极电流
|
0.1nA-50A |
工作电压 |
200V-240V |
扩展电流
|
100A |
电源频率 |
47Hz-63Hz |
电流分辨率
|
0.1nA |
工作温度 |
25℃-40℃ |
测试精度
|
0.2%+2LSB |
通信接口 |
RS232 USB |
测试速度
|
0.5mS/参数 |
系统功耗 |
<150w |
测试范围:
01
|
二极管 / DIODE
|
02
|
晶体管 / NPN型/PNP型
|
03
|
J型场效应管 / J-FET
|
04
|
MOS场效应管 / MOS-FET
|
05
|
双向可控硅 / TRIAC
|
06
|
可控硅 / SCR
|
07
|
绝缘栅双极大功率晶体管 / IGBT
|
08
|
硅触发可控硅 / STS
|
09
|
达林顿阵列 / DARLINTON
|
10
|
光电耦合 / OPTO-COUPLER
|
11
|
继电器 / RELAY
|
12
|
稳压、齐纳二极管 / ZENER
|
13
|
三端稳压器 / REGULATOR
|
14
|
光电开关 / OPTO-SWITCH
|
......其它器件共19大类27分类
|
,
系统特征:
● IV曲线显示/局部放大
● 程序保护电流/电压,以防损坏
● 品种繁多的曲线
● 可编程的数据点对应
● 增加线性或对数
● 可编程延迟时间可减少器件发热
● 保存和重新导入入口程序
● 保存和导入之前捕获图象
● 曲线数据直接导入到EXCEL
● 曲线程序和数据自动存入EXCEL
● 测试范围广(19大类、27分类)
曲线测试:
ID vs. VDS at range of VGS
ID vs. VGS at fixed VDS
IS vs. VSD
RDS vs. VGS at fixed ID
RDS vs. ID at several VGS
IDSS vs. VDS / HFE vs. IC
BVCE(O,S,R,V) vs. IC
BVEBO vs. IE
BVCBO vs. IC
VCE(SAT) vs. IC
VBE(SAT) vs. IC
VBE(ON) vs. IC (use VBE test)
VCE(SAT) vs. IB at a range of ICVF vs. IF
测试参数:
漏电参数:IR、 ICBO、 LCEO/S/X、IDSS/X、 IDOFF、 IDRM、 IRRM、
ICOFF、IDGO、ICES、IGESF、IGESR、IEBO、IGSSF、IGSSR、
IGSS、IGKO、 IR(OPTO)
击穿参数:BVCEO BVCES(300μS Pulse above 10mA)BVDSS、 VD、
BVCBO、 VDRM、 VRRM、 VBB、BVR 、 VD+、VD-、BVDGO、
BVZ、BVEBO、BVGSS、 BVGKO
增益参数:hFE、CTR、gFS
导通参数:VCESAT、VBESAT、VBEON、 VF、VT、VT+、VT-、 VON、
VDSON、VDON、VGSON、VF(Opto-Diode)VGSTH、VTM、
VGETH、VSD、IDON、VSAT、IDON、VO(Regulator)
Notch = IGT1、IGT4、ICON、VGEON、、IIN(Regulator)
关断参数:VGSOFF
触发参数:IGT、VGT
保持参数:IH、IH+、IH-
锁定参数:IL、IL+、IL-
混合参数:rDSON、gFS、Input Regulation、Output Regulation
间接参数:IL
配置规格:
配置
|
规格/环境 |
主极电压
|
1mV-2000V |
尺 寸 |
450×570×280(mm) |
电压分辨率
|
1mV |
质 量 |
35kg |
主极电流
|
0.1nA-50A |
工作电压 |
200V-240V |
扩展电流
|
100A |
电源频率 |
47Hz-63Hz |
电流分辨率
|
0.1nA |
工作温度 |
25℃-40℃ |
测试精度
|
0.2%+2LSB |
通信接口 |
RS232 USB |
测试速度
|
0.5mS/参数 |
系统功耗 |
<150w |
测试范围:
01
|
二极管 / DIODE
|
02
|
晶体管 / NPN型/PNP型
|
03
|
J型场效应管 / J-FET
|
04
|
MOS场效应管 / MOS-FET
|
05
|
双向可控硅 / TRIAC
|
06
|
可控硅 / SCR
|
07
|
绝缘栅双极大功率晶体管 / IGBT
|
08
|
硅触发可控硅 / STS
|
09
|
达林顿阵列 / DARLINTON
|
10
|
光电耦合 / OPTO-COUPLER
|
11
|
继电器 / RELAY
|
12
|
稳压、齐纳二极管 / ZENER
|
13
|
三端稳压器 / REGULATOR
|
14
|
光电开关 / OPTO-SWITCH
|
......其它器件共19大类27分类
|
,
系统特征:
● IV曲线显示/局部放大
● 程序保护电流/电压,以防损坏
● 品种繁多的曲线
● 可编程的数据点对应
● 增加线性或对数
● 可编程延迟时间可减少器件发热
● 保存和重新导入入口程序
● 保存和导入之前捕获图象
● 曲线数据直接导入到EXCEL
● 曲线程序和数据自动存入EXCEL
● 测试范围广(19大类、27分类)
曲线测试:
ID vs. VDS at range of VGS
ID vs. VGS at fixed VDS
IS vs. VSD
RDS vs. VGS at fixed ID
RDS vs. ID at several VGS
IDSS vs. VDS / HFE vs. IC
BVCE(O,S,R,V) vs. IC
BVEBO vs. IE
BVCBO vs. IC
VCE(SAT) vs. IC
VBE(SAT) vs. IC
VBE(ON) vs. IC (use VBE test)
VCE(SAT) vs. IB at a range of ICVF vs. IF
测试参数:
漏电参数:IR、 ICBO、 LCEO/S/X、IDSS/X、 IDOFF、 IDRM、 IRRM、
ICOFF、IDGO、ICES、IGESF、IGESR、IEBO、IGSSF、IGSSR、
IGSS、IGKO、 IR(OPTO)
击穿参数:BVCEO BVCES(300μS Pulse above 10mA)BVDSS、 VD、
BVCBO、 VDRM、 VRRM、 VBB、BVR 、 VD+、VD-、BVDGO、
BVZ、BVEBO、BVGSS、 BVGKO
增益参数:hFE、CTR、gFS
导通参数:VCESAT、VBESAT、VBEON、 VF、VT、VT+、VT-、 VON、
VDSON、VDON、VGSON、VF(Opto-Diode)VGSTH、VTM、
VGETH、VSD、IDON、VSAT、IDON、VO(Regulator)
Notch = IGT1、IGT4、ICON、VGEON、、IIN(Regulator)
关断参数:VGSOFF
触发参数:IGT、VGT
保持参数:IH、IH+、IH-
锁定参数:IL、IL+、IL-
混合参数:rDSON、gFS、Input Regulation、Output Regulation
间接参数:IL
配置规格:
配置
|
规格/环境 |
主极电压
|
1mV-2000V |
尺 寸 |
450×570×280(mm) |
电压分辨率
|
1mV |
质 量 |
35kg |
主极电流
|
0.1nA-50A |
工作电压 |
200V-240V |
扩展电流
|
100A |
电源频率 |
47Hz-63Hz |
电流分辨率
|
0.1nA |
工作温度 |
25℃-40℃ |
测试精度
|
0.2%+2LSB |
通信接口 |
RS232 USB |
测试速度
|
0.5mS/参数 |
系统功耗 |
<150w |
测试范围:
01
|
二极管 / DIODE
|
02
|
晶体管 / NPN型/PNP型
|
03
|
J型场效应管 / J-FET
|
04
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MOS场效应管 / MOS-FET
|
05
|
双向可控硅 / TRIAC
|
06
|
可控硅 / SCR
|
07
|
绝缘栅双极大功率晶体管 / IGBT
|
08
|
硅触发可控硅 / STS
|
09
|
达林顿阵列 / DARLINTON
|
10
|
光电耦合 / OPTO-COUPLER
|
11
|
继电器 / RELAY
|
12
|
稳压、齐纳二极管 / ZENER
|
13
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三端稳压器 / REGULATOR
|
14
|
光电开关 / OPTO-SWITCH
|
......其它器件共19大类27分类
|