借助全数字基带处理技术，实现高重现性和可维护性
一台设备支持 LTE 4x2 MIMO 或 2x2 MIMO 双单元测试
支持 LTE 2x2 MIMO 和 W-CDMA 系统间切换测试
采用 MD8430A/MD8480C 测试方案使得衰减调整易于操作
可扩展的硬件平台，支持多达四个输入和四个输出端口
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