CT-A电脑一体化库仑测厚仪

   这是一款依据库仑原理设计的仪器，仪器配备：测量台，和电解液，可完成各种磁感应和涡流等无法测量的检测工作。仪器主机安置在 PC 机内，结构紧凑。虚拟数字面板，操作便利。

    但是该方式是有损测量，将会在样本上腐蚀出一个测量斑点。

 可用于测量：

• Au、Cd、Cr、Pd、Ni、Sn、Zn、Pb等单层金属
• 多层镍（STEP）
• 合金镀层： 如： Pb - Sn、Cu - Zn、Ni - P等等
• 复合镀层： 如： Cu + Ni + Cr
• 基材可为 Cu and Cu-Alloy、Al and Al-Alloy、Zn and Zn-Alloy、Ni、Fe、非金属材料等
• 可测量线材和其它异性底材镀层

测量范围和测量精度：

• 测量范围：  0.01 μm ～ 50 μm
• 测量精度：  ≤ ± 10 ％

基本配置：

• 仪器：            CT - A 电脑一体化测厚仪
• 测量台：          
• 电解液：          

特征：

• 标准：DIN EN ISO 2177 ； ASTM B504
• 测量数据数字化储存、图形显示，准确、直观，测量精度高
• 实时动态显示电位变化曲线、可识别和测量合金层和其它中间层
• 自动分析和测量多层镍等类似镀层的电位差值及厚度，评价其耐腐蚀性能
• 测量多层镍无需三电极系统使用更方便
• 能分辨成份的镀层、评价镀层的均匀性。进而判断镀液的状况、添加剂的性能
• 能打印测量曲线和标准格式报告
• 软件免费升级
• 最小测量面积：Φ 1 mm
• 性价比高、价格低廉、服务及时

产地： 中国