AD3000便携式X荧光分析仪

2测量原理
    X光管产生的X射线与样品中元素的原子相互作用，逐出原子内层电子，当外层电子补充内层电子时，会放出该原子所固有能量的X射线，称之为特征X射线（X荧光）。各种元素的原子受激发后，在退激过程中放出的特征X射线能量各不相同，例如铁的特征X射线（FeKα）能量为6.4KeV,铜的特征X射线(CuKα)能量为8.0KeV等等,依次可进行定性分析。在一定条件下，特征X射线的强度与元素含量（品位）成正比，依此可进行定量分析。
对于半无限大空间饱和厚度，并且表面均匀的样品，当二次荧光可以忽略时，目标元素的特征X射线强度（IK）可以用下式表示：
IK=KI0Ck/(μ0/sinφ+μK/sinψ)式中：K为与探测器的激发效率有关的常数；I0为入射射线强度；Ck 为目标元素的含量；μ0为入射射线在样品中的质量吸收系数；μK 为特征X射线在样品中的质量吸收系数；φ为入射射线与样品表面间的夹角；ψ为特征射线与样品表面间的夹角。这是X射线荧光分析最基本理论公式。在实际样品分析时，由于样品中物质成分差异，还应考虑基体效应校正，才能得到正确的结。

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