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YMJ-C叶面积测量仪 可检测大叶片

价        格:面议   
产品型号: YMJ-C
有 效 期: 长期有效
所 在 地: 浙江省绍兴市
配送信息:
供应数量:不限
了解详情,请立即咨询!
 

   
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该公司共有 3条同类“叶面积测量仪”信息       查看全部>>
详细说明

YMJ-C叶面积测量仪 可检测大叶片
  叶面积测量仪在硬件系统上包括:微处理器芯片,它是叶面积测量仪核心部件,控制叶面积仪的工作;存储器,用作程序的运行空间,数据及堆栈区,用于存放程序代码、常量表以及一些在系统掉电后需要保存的用户数据等;LCD触摸屏,提供了良好的人机交互界面;USB接口,可以实现同PC机之间的数据传输;130万像素的CMOS摄像头,用来采集叶子图像。RS232接口、SD卡接口、JTAG接口等。硬件同软件一起实现叶子图像采集、图像存储与显示、图像管理与处理、叶片参数计算、与计算机通讯等功能。
  叶面积指数(leafareaindex,LAI)是生态系统的一个重要结构参数。传统的直接测量LAI对植物本身具有一定破坏性,且人工采集样品耗时耗力。间接方法以光学模型为主,近年来,出现了一系列基于光学模型方法的检测冠层LAI的新仪器,如澳大利亚CSIRO的DEMON,英国Delta-T的SunScan,美国Licor的LAI-2000、LI-191和CID的CI-100/110DigitalPlantCanopyImager、加拿大WinSCANOPY鱼眼相机冠层分析仪等。因为国际上还没有一个统一的试验检验标准,同时各种仪器有各自的理论模型、分析分法和应用条件。光学模型分为可见光光学模型和图像处理2种,前者通过穿透到植冠内的辐射比尔定律(thelawofBeer)等公式,得到作物群体内辐射衰减公式,进而推导出LAI,优点是比较简易方便,缺点主要是不考虑相互重叠因素,导致误差大;后者相对全面准确,但是图像分割技术具有局限且其图像处理速度低。两者的测量对象都是以均匀分布的农林作物为主。

仪器名称:叶面积测量仪
仪器型号:YMJ-C

叶面积测量仪的功能特点:
叶面积测量仪在开机预热进入正常测量状态后,用户只需打开仪器的发光板盖,将被测叶片平铺在感光板的任何位置,合上发光板盖,在屏幕上轻点“测量”键后,系统将测量被测叶片的叶面积,并将其面积值在仪器LCD上显示并保存。如需细致的科研分析,还可将保存的数据导到电脑上用软件进行统计分析,能直观显示叶片的大小和形状,能分析单叶片的面积,虫斑数和虫斑面积,多张叶片的面积和虫斑面积等参数。

叶面积测量仪的技术参数:
叶片长度范围:0-290mm
叶片宽度范围:0-220mm
分辩率:0.1mm
测量精度:0.3%以内
测量时间:1秒/次

产品详细介绍:
叶面积测量仪 http://www.grainyq.com/product/796.html
粮食仪器 http://www.grainyq.com/

 

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