optris CX hs LT型测温仪在测量温差小至0.025
K时设定了新性能标准。测量范围-20°C至150°C。
红外测温仪在低噪声测温仪分支中设定了新标准,并且还能在周围温度变化时提供高精度的测量结果。
主要参数
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温度量程:
-20°C ~ 150°C
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光谱范围: 8 ~14 μm
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响应时间: 150 ms
optris CX hs LT型测温仪的技术参数
测量参数
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温度量程(通过软件测量): -20°C~150°C
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光谱范围: 8 ~ 14 μm
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光学分辨率(90%能量): 15:1
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CF透镜(可选): 0.8 mm @ 10 mm
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系统精度(环温= 23 ± 5°C和物体温度> 20°C):
± 1 % 或 ± 1 °C1)
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重复精度(环温= 23 ± 5°C和物体温度> 20°C):
± 0.3% 或 ± 0.3 °C1)
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温度分辨率: 0.025 K (物体温度>20°C
和平均值 > 0.2 s)
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响应时间(95%): 150 ms(通过可选编程装置可调节999
s)
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发射率/增益(通过软件调节): 0.100 ~ 1.100
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透射率(通过软件调节): 0.100 ~ 1.100
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信号处理(仅通过可选软件可调具体参数):
峰值保持、谷值保持、平均值,延长保持阈值和滞后功能
基本参数
电气参数
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模拟输出: 4-20 mA
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报警输出: 0-30 V/500 mA(常开))
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数字输出(可选): USB
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回路电阻: Max 1000 Ω2)
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电缆长度: 8m
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电源:
直流5-30 V
版本
零件编号:
温度量程/光谱范围/光学分辨率
1)
取较大值
2)
根据电源电压
optris CX hs LT型测温仪的应用领域
optris CX hs LT型测温仪适用于对温差变化很小的测量,并用于准确测量至关重要产品的温度。
因此,它不仅用于半导体工业中,用于测试所配备的电路板的性能,而且也适用于在其他需要全方面而准确的非接触式温度测量的工业领域。