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企业新闻
晶体管测试系统主要参数分析
发布日期:2014-10-18

 

    随着科技的不断发展,电子设备的投入使用也渐现普遍,这时候为了确定晶体管是否能够正常使用,晶体管测试系统的应用也是非常的普遍。本文就详细的介绍公司提供的此种晶体管测试系统,具备怎样的特征?

  主要特点

  BJ4811A性晶体管特性图示仪是原BJ4811的改进。

  其主要特点是在国内率先实现了通用型图示仪的集成化,除瓦级震荡管,百伏级末级电压提升,安培级电流扩展外,其余多部分均已实现集成化,因此该机具有线路简明,少调节,易维护的特点。它阶梯电压高(达1V/级,可直接测量厂效应管),集电极电压高(达1V/级,可实现基极注入高压测试),且体积小,重量轻,耗电省,是目前国内较理想的图示仪升级产品。

  晶体管测试系统的主要参数

  Y轴偏转因数

  A。集电极电流:0。01~1000mA/度正负3%。

  B。基极电流:0.1V/度正负3%。

  C。倍率:*0.1正负3%。

  X轴偏转因数

  A。集电极电压:0.1~1000V/度10档正负3%。

  B。基极电压:0.05~1V/度5档正负3%。

  C。基极电流:0.1V/度正负3%。

  D。倍率:*0.5正负3%。

  阶梯信号

  A。阶梯电流:0.2uA~100mA/级18档正负50%

  B。阶梯电压:0.05~1V/级5档正负5%。

  C。级/簇:1-10级步进。

  D。级/秒:200。

  E。极性:正或负

  集电极扫描信号

  A。范围及容量:0-20V10A0-200V1A0-10000.1A

  B。极性:正或负

  C。方式:全波整流

  D。功耗电阻:0-500K欧姆

  校准电压:1V0.5V0.1。

 

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