随着电子领域的不断发展，晶体管测试系统也在不断地使用当中，并广泛应用于各种领域，在应用的过程中对于其电子性能有没有深入的了解，小编予以用户详细的做以介绍。

　　一、性能指标

　　电流测量精度：分辨率可达100pA，精度为1％。

　　电流测量范围：测量范围达100pA～50A，量程自动切换。

　　电压测量精度：分辨率可达1mV，精度1％。

　　电压测量范围：测量范围达1mV～5000V，量程自动切换。

　　集电极电压：0～1000V/1000W(瞬间)。

　　集电极电流：0～20A。

　　二、功能

　　三极管的β值，BVcbo、BVebo、BVceo、BVces、BVcer、Icm等直流极限参数，Icb～BVcbo曲线、Ieb～BVebo曲线、Iceo～BVceo曲线、Ices～BVces曲线、Icer～BVcer曲线、Ib~Ic曲线、Vbe～Ic曲线、Vbe～Ibe曲线、Vce～Ic曲线。二极管反向击穿电压，稳压二极管稳定电压，正向电流If～Vf曲线，反向电流Ir～Vr曲线。

　　场效应管开启电压和夹断电压，导电沟道完全开启电压，导通电阻（至1毫欧），结型场效应管反向电流Vgs-Igss曲线，Vgs～Rds曲线，Vgs～Ids曲线。

　　可控硅的正向阻断曲线，在不同触发电流和电压下的正向触发导通曲线，反向击穿曲线。

　　光电耦合器的输入二极管正向和反向曲线，输出管击穿曲线，传输特性曲线等。

　　三端稳压器的稳定电压，静态电流，输入输出电压差。单结晶体管的触发特性曲线，输出特性曲线，η值等。

　　三、用途

　　在生产和器件采购中，该仪器可用于器件质量检验和生产过程控制。

　　在生产过程控制中，可用于器件失效分析。

　　到100pA），可以建立仿真模型，为器件建立数据手册，同时为设计计算提供原始数据。借助特定软件，可以通过串口连接到该仪器，直接从测量结果中产生PSPICE等仿真软件的模型库。

    晶体管测试系统详细的介绍了电子测试系统的性能特征，若是在选购的时候若是有着任何方面的不解之处，可直接致电了解。