电子元器件在制造过程中，都存在着去伪存真的需要，这种需要实际上就是一个测试过程。实现这种过程需要各种测试设备，这类设备就是所谓的ATE(Automatic Test Equipment)。 这里所说的电子元器件 (DUT)包括IC类别，还包括分立的元件、器件。ATE应用于前道工序（Front End）和后道工序（Back End）的各个环节，具体取决于工艺（Process）设计的要求。
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