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 1、逻辑坏道：俗称“软坏道”。是由软件安装或使用错误造成的，一般对硬盘本身不会造成太大的危害。
　 2、物理坏道：这类坏道就是前段IBM硬盘事件的普遍症状。磁头和磁盘间的间隙仅有0.015~0.025 μm ，这么小的间隙，硬盘在运输途中，如果受到强烈颠簸，会使硬盘产生物理坏道。除此以外，人为的错误也会使一块硬盘报废。一些粗心大意的人在装机时，硬盘螺丝没有拧紧，为日后的使用埋下了隐患。硬盘工作时的震动也会造成物理坏道的产生。

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