应用领域    ?RoHS指令筛选检测         ?无卤指令筛选检测             ?玩具指令筛选检测       ?金属镀层测厚         ?合金成分分析

主要配置

?美国Si-PIN电制冷半导体探测器

?侧窗钼（Mo）靶管

?标配16组复合滤光片

?配置了Φ0.5mm、Φ1mm、Φ3mm、Φ4mm四种准直器

?具备符合中国国家标准的样品混侧功能

?内置标准工作曲线

?配置On-line实时在线技术支持与服务平台

?具备开放工作曲线技术平台

?分析软件操作系统分级管理

产品参数

名称：X荧光光谱仪

型号：NDA200

输入电压：220±5V/50Hz

消耗功率：≤500W

环境温度：15-30℃

环境湿度：≤80%（不结露）

主机外形（mm）:长＊宽＊高=900*500*440

样品仓（mm）:长＊宽＊高=430*380*120

主机重量：约60公斤

技术指标

元素种类：元素周期表中硫（S）～铀（U）之间元素

测量时间：

        对聚合物材料，典型测量时间为200秒

        对铜基体材料，典型测量时间为400秒

检出限指标（LOD）：

        对聚合物材料：LOD（Pb）≤5mg/Kg；LOD（Hg）≤5mg/Kg；LOD（TCr）≤5mg/Kg；LOD（TBr）≤5mg/Kg；LOD（Cd）≤5mg/Kg

        对铜基体材料：LOD（Pb）≤50mg/Kg

精密度指标，以连续测量7次的标准偏差σ表征：

    对聚合物（塑胶）材料：LOD（Pb）≤15mg/Kg；LOD（Hg）≤15mg/Kg；LOD（TCr）≤15mg/Kg；LOD（TBr）≤15mg/Kg；LOD（Cd）≤7mg/Kg

        对铜基体材料：LOD（Pb）≤50mg/Kg

准确度指标，以系统偏差δ进行表征

        对聚合物材料：δ（Pb）≤100mg/Kg; δ（Hg）≤100mg/Kg; δ（TBr）≤100mg/Kg; δ（TCr）≤100mg/Kg; δ（Cd）≤10mg/Kg

        对铜基体材料：δ（Pb）≤150mg/Kg