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功能测试系统【王氏天茂，王先生，4000-998-538】我们的目标宗旨是：成为EMS电子制造企业身边最有价值的合作伙伴！

　　ICT测试治具的I/O管脚的连线。因为ICT的I/O管脚为测试仪提供了的存取通道。

　　测试ICT上IC芯片的完整性，在芯片的装配过程中，IC芯片或许己损坏。可采用内建自测试和内部测试，以验证芯片的好坏。

　　测试测试治具上IC芯片互连的开路与短路故障，可采用外部测试加以验证。

　　测试ICT测试上总线的完整性，通过其测试可检测与总线相连的IC芯片I/O管脚是否存在开路故障。

　　随着BST技术的不断发展，ICT测试将逐步完善。由于可编程集成电路的大量使用，ICT测试治具的灵活性和适用性将会提高，而相应的测试系统的成本将会减少。

　　设计者可以在ICT上全部采用可编程逻辑的集成电路，只要通过软件编程即可修改芯片逻辑，从而做成通用的印制电路板，使ICT电路板可以完成不同的功能。

　　这样边界扫描测试技术将使得测试治具更加方便快捷，极大地降低测试成本。

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