射频导纳物位计原理：    
    射频导纳式物位控制器是利用高频技术，由电子线路产生一个小功率射频信号于探头上，探头作为敏感元件，将来自物位介电常数引起的信号变化反馈给电子线路于这些变化包括电容量和电导量的变化，因而电子线路处理的是容抗和阻抗的综合变化信号,采用相位检测技术将这种变化检测出来，进行处理后继电器的输出。它是在原电容测量的基础上改进为射频导纳测量技术，代表了当今物位测量的新水平。

主要技术参数
     灵敏度：0.5-1000pf       
     延长时间：0-30s 
     介质压力：0-70kg/mз(根据不同温度确定) 
     介质温度：-40℃至+260℃(根据不同压力确定) 
     输出继电器：DPDT 10A@115VAC 或 5A@ 220VAC 
     测量范围：30cm-60M 
     输出信号：4-20mA,或带继电器，或带HART协议 
     精 度：+0.5% 
     可提供防爆：四线制或二线制变送器以及法兰型安装
     分离型射频导纳物位控制器带自检电路