紫外光度计系列	名称	主要技术特点
751G型	紫外可见分光光度计	波长范围：195~1000mm　光谱带宽：(0~2nm)
752N型	紫外可见分光光度计 （改进型产品）	波长范围：200~800nm　光谱带宽：5nm/采用微机测量系统，测量读数准确性高
754N型	紫外可见分光光度计	波长范围：200~800nm　光谱带宽：4nm/外接高速热敏打印机，自动消除比色皿误差功能
755B型	紫外可见分光光度计	波长范围：200~1000nm　光谱带宽：2nm/采用微机系统,备有标准打印机接口和RS232通讯口
756MC型	紫外可见分光光度计
756CRT型	紫外可见分光光度计	波长范围：200~800nm　光谱带宽：2nm/与扫描功能／756CRT:IBMPC兼容机实时控制，软件基于Windows98平台多阶导数光谱，图谱重叠
UV757型	紫外可见分光光度度计 （附软件）	同上，附电脑，打印机
UV757CRT型	紫外可见分光光度计	波长范围：200~1000nm　光谱带宽：2nm/自动8联样品架，自动扣除色皿误差，附电脑，打印机
UV762型	双光束紫外可见分光光度计	波长范围：200~1100nm　光谱带宽：2nm/自动扫描测量光谱、多波长(1~3)测定、动力学测定，采用大屏幕中文窗口显示
760CRT型	双光束紫外可见分光光度计	波长范围：测光方式：双光束Ｃ－Ｔ式光路结构
		波长范围：190~900nm　光谱带宽：0.8~5nm 间隔0.01mm连续可调／双光束Ｃ－Ｔ式光路结构，高分辨率，低杂散光，测光精度高，稳定性能好，功能极强的光谱处理能力。