惠普HP/8720C/8720ES/8720D/8722D/8722ES网络分析仪

   HP8720C矢量网络分析仪表征频率范围从50MHz到20GHz内的RF/微波元件特性。HP8720C网络分析仪包括一个快速扫频源、S参数测试装置、调谐接收机和大的彩色显示。这种集成化设计使得HP8720C小型、经济和方便使用。HP8720C对于研究开发、生产制造、产品入库检验或质量保证机构中有成本和时间意识的工程师来说，是一理想的选择。
性能优良且价格合理的分析仪
HP8720C网络分析仪除价格能被接受外，其性能亦引人注目。集成信号源是全合成化的信号源，即使在扫描时，其稳定度和精度也处在10ppm范围(典型值)。另外，扫描速度极快。典型情况下，测量的更新时间约为每个测量点1ms，频率分辨率标准为100kHz，选件001提供1Hz的分辨率，对窄带或长延迟器件提供的测量。 具有可变带宽IF滤波器的调谐接收机提供达103dB的动态范围。内置转换测试装置用一次连接即可测量所有4个S参数(正向和反向)。
两个独立的通道可同时显示两种测量结果，如反射和传输响应。接收机对幅度和相位两者进行检测，并以多种实用的格式显示测量结果，包括在直角坐标、极坐标或史密斯圆图上显示群延迟、与线性相位的偏离、复阻抗和SWR。
内置的矢量精度增强措施对所有通用同轴连接器提供优良的误差修正精度。用户配件能提供由用户定义的标准件，允许进行波导校准(包括色散效应)。从简单响应标准到全双端误差修正中选择。或者使用TRL来测量夹具上的非同轴器件(微带)。
测量有源器件的强有力的功能
HP8720C在其测量端口上有+10dBm的功率，有足够的功率用于对放大器进行测试。对于一些灵敏的小信号器件，内置步进衰减器可以将功率减小到-65dBm。利用功率计的校准功能，功率电平可以在系统的任何地方进行调节。功率扫描功能和0.1dB的功率分辨率简化了对有源器件的增益-压缩特性的测试。此外，有2个内部的T型通过测试端口用于偏置晶体管。
分析安装在夹具中和晶片上的器件特性
利用TRL*校准将夹具误差减至最小，以便对非同轴器件(如微带)进行测量。也可以将网络分析仪与晶片探测台相结合，以便能在晶片上直接测量器件。电子端口延伸和选通也可用来提高精度。
时域和故障定位
用时域功能（选件010）对被测件（DUT）的响应随时间或距离（而不是频率）的变化进行计算和显示。还可利用时域来查找并定量表示一个网络中个别故障或不连续点的位置。应用选通功能来消除不希望的反射的影响（及时分离），然后观察DUT的真实响应随频率变化的情况。