容易使用的4200-SCS型半导体特性分析系统用于实验室级的器件直流参数测试、实时绘图与分析，具有高精度和亚fA极的分辨率。它提供了的系统集成能力，包括完整的嵌入式PC机，WindowsNT操作系统与大容量存储器，其自动记录、点击式接口加速并简化了获取数据的过程，这样用户可以更快地开始分析测试结果。4200-SCS提供了很大的灵活性，其硬件选项包括开关矩阵、Keithley与Agilent C-V仪以及脉冲发生器等多种选择。4200-SCS为模块化结构配置非常灵活，系统最多可支持八个源-测量单元，包括最多四个具有1A/20W能力的大功率SMU。远端前置放大器选件4200-PA，可以有效地减少电缆所贡献的噪声，且使SMU扩大五个小电流量程，使其测量能力扩展到0.1fA。前置放大器模块同系统有机地结合成一体，从使用者看来，相当于扩充了SMU的测量分辨率。
免责声明：本商铺所展示的信息由企业自行提供，内容的真实性、准确性和合法性由发布企业负责，一比多公司对此不承担任何保证责任。
友情提醒：为保障您的利益，降低您的风险，建议优先选择商机宝付费会员的产品和服务。