X 射线衍射(XRD)技术在纺织品检测中的应用
使用X 射线衍射(XRD)技术可以测定纺织品的成分和组织结构等这些决定材料性能的基本因素.通过化学分析可知道材料的成分,通过形貌分析可揭示材料的显微形貌,而通过XRD 可给出材料的物相结构及元素存在状态的信息.用XRD 不仅可进行定性和定量分析,而且还可进行特殊信息的分析,如晶粒度测定、应力测定、薄膜厚度及介孔结构测定等.测定晶粒度,可先测出衍射线宽度,再通过XRD 谱图及Scherrer 公式可计算出纳米材料的晶粒大小，对一些新型的纤维或是一些镀层薄膜的测定分析发挥了很大的作用。