Sphere-3000反射率测试仪

Sphere3000是一套波长显微球面光学元件光谱分析仪，能快速准确地测量各类球面/非球面器件的相对/反射率。适用于凸透镜、凹透镜、镜片等的镀膜反射率测量。还可进行有干涉条纹的单层膜厚或折射率测量。

技术参数

型号

Sphere-3000（I型）

Sphere-3000（III型）

检测范围

380~800nm

360~1100nm

波长分辨率

1nm

1nm

相对检测误差

﹤1%

﹤0.5%

测定方法

与标准物比较测定

被测物再现性

±0.1%以下(2σ)   （380nm~410nm）

±0.05%以下(2σ) ， (410nm~800nm)

±0.1%以下(2σ)，(380nm~410nm) ；±0.05%以下(2σ) ，(410nm~1100nm)

单次测量时间

﹤1s

精度

0.3nm

被测物N.A.

0.12(使用10×对物镜时) 、 0.24(使用20×对物镜时)                                                                                  

被测物尺寸

直径>1mm

厚度>1mm(使用10×对物镜时)

厚度>0.5mm(使用20×对物镜时)

被测物

测定范围

约φ60μm(使用10×对物镜时) ； 约φ30μm(使用20×对物镜时)

设备重量

约15kg（光源内置）

设备尺寸

300(W)×550(D)×570(H)mm

使用环境

水平且无振动的场所

温度：23±5℃；

湿度：60％以下、无结露；

操作系统

Windows XP, Windows Vista，Win7

软件

分光反射率、物体颜色、单层膜厚（有干涉条纹）和镀膜（有干涉条纹）折射率测定

尺寸

480*400*580mm

Sphere3000反射率测试仪-特点：

显微测定微小领域的反射率  物镜对焦于被测物微小区域（φ60μm）

CIE颜色测定  X Y色度图，x, y, L, a, b, 饱和度，主波长等

检测速度快  高性能探测器，能在几秒内实现重现性高的测定

背面反射光 无需进行背面防反射处理即可快速准确地测定表面反射率