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半导体元器件静电测试仪

价格：面议

产品型号： ESD-606G

有效期：长期有效

所在地：北京市海淀区

配送信息：

无

供应数量：不限

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该公司共有 2条同类“电子元器件静电放电发生器”信息查看全部>>

详细说明

产品介绍

静电放电发生器专门为IC、LED等半导体器件的抗静电测试而设计，仪器集成人体放电模式(HBM)和机械放电模式(MM)通过更换阻容模块来实现两种测试功能。

标准

MIL-STD-883E、 METHOD 3015.7、EIAJED-4701ConditionA、EIAJED-4701ConditionB、GJB-548A-3015、SJ/T11394、SJ/T11399

优点

1.超大液晶显示，智能控制高压输出,体积小，重量轻，操作方便；
2.内置温湿度传感器，及时记录现场试验环境；
3.电子式高压电源，电压稳定精度高；
4.内置单片机控制，稳定可靠，操作方便；
5.主开关采用美国原装进口；
6.正负极性自动切换；
7.RS-232接口，PC控制操作

参数

型号	ESD-606G
项目	MIL-STD-883E METHOD3015.7 IEC747-1	EIAJED-4701 ConditionA
输出电压	0—8KV±5%
输出电压极性	正/负
放电电容	人体模式：100pF	机械模式：200pF
放电电阻	人体模式：1.5kΩ	机械模式：0 Ω
工作形式	放电时间间隔在0.1~99.9s之间，操作方式自由切换单次放电，连续放电，手动操作，自动放电
放电次数设定	1~9999
放电间隔	0.1~9.9s
工作电源	AC220V±10%,50Hz
环境温度	15-35℃
外形尺寸	466×356

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