主要规格
TSI-2
基本性能
测量对象
样品的缺陷、不均匀性、红外线放射亮度、简易温度、热特性
输出数据
频率、距离、振幅、位相、亮度、图像数据
解析模式
点?范围解析、位相解析
其它配件
温度调制加热器、控制解析软件、PC
测量环境
温度
RT∼250[℃]
测量频率
0.1∼10[Hz]
红外照相机
元件数量
336×256
元件的种类
VOx Microbolometer
像素
17[μm]
观察波长范围
7.5∼13.5[μm]
帧延迟
30[Hz]
分辨率
About 30[μm]
半导体激光
（连续振荡）
波长
808[nm]
输出功率
5[W]
正弦波调制
0.1∼30[Hz]
平台可动范围
水平（XY轴） 方向
±15[mm]
垂直（Z轴） 方向
+50[mm]
电源
AC100-240[V], 10-5[A], 50/60[Hz]
使用环境
20～30(℃)
湿度
20～80(%)
保管环境
0～50(℃)
设备本体
外形尺寸
W552 × D602 × H657[mm]
重量
76.5[kg]
激光安全标准
CLASS1, IEC/EN 60825-1:2007
热传导检查设备TSI2可以对树脂、玻璃、陶瓷、金属等的缺陷、不均匀性、红外线放射亮度、简易温度、热特性等进行测量分析；
热传导检查设备TSI2优势：
1. 具备激光加热功能；
2. 宏观摄影光学系（分辨率约20μｍ）；
3. 高性能红外照相机（7.5μm～13.5μm）；
4. 独立的减噪技术；
5. 操作简单，打开盖子将样品放置到指定位置就可以进行测量；
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