西安易恩电气科技有限公司
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西安大型厂家直供可控硅测试仪

价        格:100.00元/台      立即购买
产品型号: ENJ2005-C
有 效 期: 长期有效
所 在 地: 陕西省西安市
配送信息: 物流中转(10.00元)
供应数量:1000
了解详情,请立即咨询!
 

   
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详细说明

系统特征:

● IV曲线显示/局部放大                           
● 程序保护电流/电压,以防损坏         
● 品种繁多的曲线
● 可编程的数据点对应                    
● 增加线性或对数
● 可编程延迟时间可减少器件发热           
● 保存和重新导入入口程序
● 保存和导入之前捕获图象                 
● 曲线数据直接导入到EXCEL
● 曲线程序和数据自动存入EXCEL            
● 测试范围广(19大类、27分类)

测试参数:

漏电参数:IR、  ICBO、 LCEO/S/X、IDSS/X、 IDOFF、 IDRM、 IRRM、     
                ICOFF、IDGO、ICES、IGESF、IGESR、IEBO、IGSSF、IGSSR、
                IGSS、IGKO、 IR(OPTO)
击穿参数:BVCEO   BVCES(300μS Pulse above 10mA)BVDSS、 VD、  
                BVCBO、 VDRM、 VRRM、 VBB、BVR 、 VD+、VD-、BVDGO、
                BVZ、BVEBO、BVGSS、 BVGKO 
增益参数:hFE、CTR、gFS
导通参数:VCESAT、VBESAT、VBEON、 VF、VT、VT+、VT-、 VON、
                VDSON、VDON、VGSON、VF(Opto-Diode)VGSTH、VTM、
                VGETH、VSD、IDON、VSAT、IDON、VO(Regulator)
                Notch = IGT1、IGT4、ICON、VGEON、、IIN(Regulator)
关断参数:VGSOFF
触发参数:IGT、VGT
保持参数:IH、IH+、IH-
锁定参数:IL、IL+、IL-
混合参数:rDSON、gFS、Input Regulation、Output Regulation
间接参数:IL

 

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