波长扫描系统SWS2000系列仍是测量插入损耗（IL）、极化依赖性损耗（PDL）、回波损耗（RL）和方向性的行业标准解决方案，在研究与开发（研发）以及制造环境中都能达到较高的波长分辨率。目前已有80多家客户采用SWS测试平台，共部署了8500多个检测通道，用于验证光学器件和模块的光学性能，包括ROADM、波长开关、可调谐滤波器和电路板。SWS系统由一个可调谐激光源、一个光源模块（SOM）、一个控制模块、一个接收器机框、一个或多个检测模块以及应用软件组成。

l 可扩展架构－随时添加更多测量站

l 波长精度±0.002 nm

l 每个测量站最多有128个检测通道

l 远端激光源最多可由8个测量站共享

l 高速扫描（可由用户控制），速度高达40 nm/s

l 灵活、便于使用的软件

l 通过动态链路库（DLL）实现定制应用

l 每天24小时、每周7天服务和支持