厂品说明：

HELMUT FISCHER制造用于镀层厚度测量和材料分析的X射线荧光系统有超过17年的经验。WinFTM^?（版本3（V.3）或版本6（V.6））软件是仪器的核心。它可以使仪器在没有标准片校准并保证一定测量精度的情况下测量复杂的镀层系统，同时可以对包含多达24种元素的材料进行分析（使用WinFTM^? V.6软件）。

技术参数：

型号	XUL(M)	XDL-B	XDLM-C4	XDVM-W	XDVM-μ
测量方向	从下往上	从上往下	从上往下	从上往下	从上往下
X-射线管型号 W: 钨管 MW: 微聚焦钨管	W 或 MW	W	MW	MW	MW
可调节的高压 30kV; 40kV; 50kV	有	有	有	有	有
开槽的测量箱体	有	有	有	有	有
基本Ni滤波器 (可选择)	有	有	有	有	有
接收器(Co) 可选择的 WM-版本	有	有	有
数准器数目	W-类型: 1 WM-类型: 4	1	4	4	1
z-轴	无	无，或电机驱动或可编程的	电机驱动的或可编程的	可编程的	可编程的
测量台类型	固定台面或可 选的手动XY工作台	固定台面 或 手动XY工作台或 可编程的XY工作台	手动XY工作台或 可编程的XY工作台	可编程的XY工作台	可编程的XY工作台
测试点的放大倍率	38 - 184 x	20 - 180 x	20 - 180 x	40 - 568 x	30 - 1108 x
DCM方法 (距离控制测量)	有	有	有
WinFTM? 版本	V.3 标准 V.6 可选择	V.3 标准 V.6 可选择	V.3 标准 V.6 可选择	V.3 标准 V.6 可选择	V.6 标准
操作系统： Windows XP prof.	有	有	有	有	有