光谱椭偏仪(PH-SE型)针对太阳能电池应用,可测量多晶硅/单晶硅绒面表面单层(二层或多层)减反射膜、和玻璃/有机基底上的薄膜太阳能电池。多层膜和非均匀薄膜的分析也非常出色。
针对太阳能电池应用的光谱椭偏仪基于的椭偏光路设计,高灵敏度探测单元和光谱椭偏仪分析软件,可测量各种太阳能电池的薄膜厚度和光学常数,光学带宽等。
光谱椭偏仪 -
产品特点
■
连续波长的光源为用户提供了更大的应用空间
■
更简便快捷的样品准直方法
■
软件具备丰富的材料数据库
■
允许用户自定义色散模型,更方便用户研究新材料的光学性质
■
全波长多角度同时数据拟合,EMA模型用户多成分化合物和表面粗糙度分析
■
具有实验数据和模拟数据三维绘图功能
■
光谱范围宽达250 - 1100nm (可扩展至250-1700nm)
■
功能强大的光谱椭偏测量与分析软件
光谱椭偏仪 -
技术指标
■
光源:氙灯
■
光斑直径:1-3mm
■
入射角范围:20°到90°,5°/步
■
波长范围:350-850nm,
250-1100nm, 250-1700nm:0.002°~
0.02°
■
波长精度:1nm
■
测量时间: < 8s
(取决于测量模式和粗糙度)
■
样品尺寸: 125x125mm 156x156mm,200x200mm电池片,
其他尺寸
■
测量精度:0.02nm
■
折射率:0.0002, 100nmSiO2 on Si
■
厚度测量范围:0.01nm ~ 50um
■
消光比:10-6
光谱椭偏仪 -
可选配
■ CCD线阵列探测元件:200-850nm,350-1000nm
■
样品显微镜
■
高稳定性消色差补偿器
■
透射测量架
■ XY移动样品台
光谱椭偏仪 -
典型客户
美国,欧洲,亚洲及国内太阳能及半导体客户。
详情欢迎来电咨询:
北京合能阳光新能源技术有限公司
北京市通州区工业开发区光华路16号
电话: -104
传真:01060546837-608
联系人:肖经理 QQ:454972757
E-mail:xiaozongyong@henergysolar.com
公司网站:http://www.HenergySolar.com